高溫介電阻抗溫譜儀

產(chǎn)品介紹

溫度波動(dòng)小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量，并參考A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。其重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。過壓、過電流、超溫等異常情況下以確保測試過程的**；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
除去電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響
目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備，將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號(hào)測量過程中影響弱信號(hào)的采集精度，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新特殊參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導(dǎo)體功能材料和納米器件的測試需求。
除去不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能，更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽
高溫介電阻抗溫譜儀是華測儀器電子事業(yè)部采用當(dāng)前先進(jìn)的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，為國產(chǎn)阻抗測試儀器的新高度。在測量10Hz-50MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨(dú)測試的缺點(diǎn)；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。得益于先進(jìn)的自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以確保0.05%的基本精度。快達(dá)5ms的測試速度及高達(dá)50M的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對(duì)的端口配置方式可有效除去測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
專用高頻測試線纜，更適合高頻測量
測試引線使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時(shí)測試線采用高頻測試專用測試線，設(shè)計(jì)兩層屏蔽，更適合高頻介電參數(shù)測量。

產(chǎn)品特點(diǎn)

產(chǎn)品參數(shù)

高溫介電阻抗溫譜儀參數(shù)：

1.模式選擇：根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式
2.測量方式：軟件可進(jìn)行介電溫譜與介電頻譜
3.溫度設(shè)置：可設(shè)置升溫速度、降溫速度、溫度、測量等待時(shí)間等
4.測量參數(shù)：ε介電常數(shù)、（ε'、ε''介電常數(shù)實(shí)部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實(shí)部與虛 部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實(shí)部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實(shí)部與虛部）、 Y導(dǎo)納、Y’、Y''（導(dǎo)納實(shí)部與虛部）、X電抗、Q品質(zhì)因數(shù)、cole-cole圖譜、機(jī)電耦合系數(shù)Kp等
5.測量頻率：軟件可設(shè)置測試的頻率
6.數(shù)據(jù)處理：測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式
7.溫度范圍：RT-800 (1650°)
8.控溫精度：±0.25℃
9.升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）
10.測試頻率：10Hz~120MHz
11.加熱方式：近紅外加熱
12.冷卻方式：水冷
13.輸入電壓：220V
14.樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm
15.電極材料：鉑金
16.夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷
17.絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
18.測試功能：介電溫譜、頻譜
19.數(shù)據(jù)傳輸：4個(gè)USB接口
20.設(shè)備尺寸：600×500×350mm

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