產品詳情
簡單介紹：
薄膜電容電容器溫度特性測量儀由華測儀器生產，是將環境試驗箱與儀器相結合，效率采集數據的自動化多通道測量儀。儀器自動評估測量高溫和高溫/高濕環境下電容器的絕緣退化特性和電容器在不同溫度下的關鍵參數，從而評估其溫度特性。該設備精度高、穩定可靠，通道數量多，具有多種測試模式，多種可選夾具，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
詳情介紹：
薄膜電容電容器溫度特性測量儀
產品優勢
至多64個通道的自動測量可以測量不同溫度環境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數，至多64個通道。
圖形功能允許實時查看測量結果
收集的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數進行實時審查。
可從不同測試模式選擇
溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合。
溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數據，并與溫度變化同步，頻率步數201步（范圍可定制）。
持續運行測試：測試模式測量參數的變化隨時間推移自動記錄數據。
頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數據。
多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本
除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據離散設備形狀定制的夾具。環境試驗箱(可定制)
產品參數
測量項目：電容量 (C)、損耗系數 (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)測試方法：溫度特性評價試驗（相對于溫度的變化）
恒定運行檢測（相對于檢測時間的變化）
頻率特性評價試驗 （相對于頻率的變化）
通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量
測量方法：交流四端對測量
測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz
電容量(C)：50 pF ~ 5 mF
損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
測量儀器：LCR表（可按需選擇型號）
直流偏壓：0 ~ ±40V
溫度測量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內完成
頻率步長：201步（范圍可定制）
補償：短時補償，開放補償
環境試驗系統控制：溫度數據采集與測量和的溫度控制同步，具有RS-485功能的環境測試系統。
測量電纜：由聚四氟乙烯制成的同軸電纜（特性阻抗(Z)，50Ω，95 pF/m）
應用領域
通信與信息技術：在通信設備和信息技術產品中，多通道電容器溫度特性評估系統可以提供有效的測試方案，確保產品在各種溫度環境下的穩定性和可靠性。電子材料：印刷電路板、通量、絕緣材料（樹脂、薄膜等）、介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）。
