塞貝克系數(shù)電阻測試儀 熱材料研發(fā)

產(chǎn)品特點

1.文本編輯

2.重復(fù)測量可少的輸入?yún)?shù)

3.實時測量分析

4.測量曲線比較:多達32條曲線

5.曲線扣除

6.曲線放大縮小

7.一階/二階求導(dǎo)

8.多重峰分析

9.樣品溫度多點校正

10.多種方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)

11.焓變多點校正

12.熱流Cp測量

13.評估結(jié)果保存及導(dǎo)出

14.ASCII數(shù)據(jù)導(dǎo)入與導(dǎo)出

15.數(shù)據(jù)生成到MS Excel

16.信號控制測量測序

產(chǎn)品優(yōu)勢

1.寬溫區(qū)覆蓋與適應(yīng)性

支持RT至1500℃寬溫度范圍，兼容低溫至高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；

提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，適配材料在不同反應(yīng)條件下的性能評估。

2. 多功能集成

塞貝克系數(shù)電阻測試儀塞貝克系數(shù)測量范圍1～2500μV/K，±7%，重復(fù)性±3%，準(zhǔn)確捕捉微弱熱電效應(yīng)；

電導(dǎo)率測量范圍覆蓋0.01～2×10^5S/cm±5～8%，支持從絕緣體到導(dǎo)體的全品類材料電阻率分析；

采用靜態(tài)直流法（塞貝克系數(shù)）與四端法（電阻率），確保測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。

3. 靈活兼容性與操作便捷性

支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復(fù)雜形狀試樣；

可調(diào)探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結(jié)構(gòu)，保障樣品接觸穩(wěn)定性，減少測量誤差；

電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應(yīng)對不同溫區(qū)與材料特性。

4. 穩(wěn)定性與長周期測試能力

電源輸出0～1A，具備長期穩(wěn)定性，支持連續(xù)高溫實驗與長時間數(shù)據(jù)采集；

配備K/S/C型熱電偶，實現(xiàn)溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。

參數(shù)規(guī)格

1.溫度范圍:RT~800/1100/1500℃

2.測量原理：塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法

3.氣氛:惰性、氧化、還原、真空

4.樣品支架:三明治結(jié)構(gòu)夾與兩電極之間

5.樣品尺寸(園柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，中6mm，23mm

6.樣品尺寸(園盤狀):10、12.7、25.4 mm

7.可調(diào)探頭距離:4、6、8mm

8.塞貝克系數(shù)測量范圍:1~ 2500uV/K±7%;重復(fù)性±3%

9.電導(dǎo)率測量范圍:0.01~2*10^5s/cm±5-8%;再現(xiàn)性±3%

10.電源:0~ 1A，具長期穩(wěn)定性

11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)

12.熱電偶:K/S/C型

應(yīng)用領(lǐng)域

01.熱電材料開發(fā)與性能優(yōu)化

測量半導(dǎo)體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導(dǎo)率，計算ZT值(熱電優(yōu)值)評估材料在高溫(如1500°C)或特定環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率

02.能源材料與器件研究

鋰離子電池電極材料、因態(tài)電解質(zhì)的電阻率與界面接觸特性分析燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導(dǎo)電性能測試

03.電子與功能材料表征

半導(dǎo)體薄膜、導(dǎo)電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究高溫超導(dǎo)材料、陶瓷基復(fù)合材料的電阻-溫度關(guān)系曲線測定

04.工業(yè)材料質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化

合金、陶瓷、碳材料的熱-電協(xié)同性能檢測，指導(dǎo)燒結(jié)工藝參數(shù)調(diào)整高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況(如真空、惰性氣氛)下的電學(xué)行為評估

05.科研與標(biāo)準(zhǔn)化測試

高校及科研院所用于熱電效應(yīng)、導(dǎo)電機制等基礎(chǔ)理論研究依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)(如ASTM E1225)開展材料熱電性能認證測試