華測(cè)儀器HTSC2000系列TSDC熱刺激電流測(cè)試儀

HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀，由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有強(qiáng)大測(cè)試功能，設(shè)備zui大支持測(cè)試電壓10kV，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、也方便擴(kuò)展介電譜等測(cè)量功能。

當(dāng)您在選擇高低環(huán)境下進(jìn)行TSDC測(cè)量，您要重點(diǎn)考慮如下的問(wèn)題？

       介質(zhì)材料在受熱過(guò)程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)，然后施加一個(gè)直流的極化電壓，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向，隨后立即降溫到低溫，使各類極化“凍結(jié)”，然后以等速率升溫，同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計(jì)短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系，即得到TSDC譜“凍結(jié)”，然后以等速率升溫，同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計(jì)短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系，即得到TSDC譜。

TSDC/TSC-3000 型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用：

   廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。

溫度范圍： -185-600°C 控溫精度：±0.25°C

升溫斜率：10°C/min（可設(shè)定） 測(cè)試頻率 : zui大電壓：10KV

加熱方式：直流電極加熱冷卻方式：水冷

輸入電壓：AC：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm 電極材料：黃銅或銀

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

低溫制冷：液氮

測(cè)試功能：TSDC 數(shù)據(jù)傳輸：RS-232

設(shè)備尺寸：180mmx210mmx50mm

儀器特點(diǎn)：

支持的硬件：

外置6517B或其它高壓直流電源

外置的高壓放大器（+/-100V到+/-10 kV） 塊體陶瓷樣品夾具

溫度控制器和溫度腔

測(cè)試功能： 熱釋電測(cè)試漏電流測(cè)試

用戶定義激勵(lì)波形